Đế gắn mẫu (stub) kính hiển vi điện tử quét, chất liệu hợp kim nhôm, dùng cho kính hiển vi điện tử quét SEM, đường kính 12.5 mm, chân trụ 3.2 x 8 mm, mã hàng: 470-0005, hãng Tescan
Mã MLC: TES.470-0005
Giá tham khảo: Báo giá
Dự kiến có sẵn:
1.00
cái
Hãng, Thương hiệu:
TESCAN
Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Hàng mới 100%
Mô tả chi tiết
SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng thời tạo đường dẫn điện từ mẫu đến hệ thống. Stub thường được chế tạo từ nhôm chất lượng cao, có độ dẫn điện tốt và trọng lượng nhẹ, giúp tối ưu hiệu suất làm việc của hệ SEM.
🔸 Đặc điểm nổi bật:
- Vật liệu nhôm dẫn điện tốt: Hạn chế hiện tượng tích điện trên mẫu
- Gia công chính xác: Bề mặt phẳng, đảm bảo độ ổn định khi quan sát
- Tương thích chuẩn phổ biến: Phù hợp với nhiều hệ SEM
- Tái sử dụng nhiều lần: Dễ vệ sinh và thay thế vật tư đi kèm (carbon tape, carbon disc)
🔸 Ứng dụng:
- Gắn mẫu rắn, bột, màng mỏng lên stub
- Sử dụng cùng băng keo cacbon hoặc keo dẫn điện
- Phục vụ quan sát hình thái và phân tích thành phần (EDS)
- Tương thích với các hệ SEM, FEG-SEM, FIB-SEM của TESCAN và các dòng tương đương
🔸 Thông số kỹ thuật:
- Đường kính mặt: 12.5 mm
- Kích thước chân (pin): 3.2 mm (đường kính) x 8 mm (chiều dài)
- Vật liệu: nhôm (Al) Dạng: trụ tròn, bề mặt phẳng
