• Trang chủ
  • Sản phẩm theo danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

Theo danh mục

Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

Tìm thấy 27 sản phẩm

Tất cả sản phẩm
Bộ lọc
Reset Filter
Danh mục
Hãng / Thương hiệu

Sản phẩm theo danh mục

Chọn lưới hoặc danh sách bên dưới

Mẫu chuẩn kiểm tra và hiệu chuẩn EDS, đế nhôm tiêu chuẩn Ø12,7 mm, dùng để kiểm tra hệ thống phân tích EDS trên kính hiển vi điện tử quét (SEM), vật liệu tham chiếu C/PTFE/Mn/Co/Al-Cu và lưới Ni 400/1000 mesh, thương hiệu EM-Tec

Mẫu chuẩn kiểm tra và hiệu chuẩn EDS, đế nhôm tiêu chuẩn Ø12,7 mm, dùng để kiểm tra hệ thống phân tích EDS trên kính hiển vi điện tử quét (SEM), vật liệu tham chiếu C/PTFE/Mn/Co/Al-Cu và lưới Ni 400/1000 mesh, thương hiệu EM-Tec

Mã MLC: EMT.36-000407-P

Hãng, Thương hiệu: EM-Tec Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

EM-Tec EDX-Checker dành cho hệ thống EDX và máy dò BSE:Hiệu chuẩn nhanh chóng và dễ dàng & kiểm tra độ phân giải cho hệ thống...

Hàng mới 100%
Phụ kiện kính hiển vi điện tử SEM, TEM. Mẫu lưới đồng phthalocyanine đường kính 3.05mm, có các khoảng trống 1.0nm, dùng để kiểm tra kính hiển vi điện tử

Phụ kiện kính hiển vi điện tử SEM, TEM. Mẫu lưới đồng phthalocyanine đường kính 3.05mm, có các khoảng trống 1.0nm, dùng để kiểm tra kính hiển vi điện tử

Mã MLC: AGS136

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

Nhiều hình ảnh về vật liệu này xuất hiện trong các tài liệu về kính hiển vi điện tử truyền qua. Khoảng cách giữa các lớp cho phép...

Hàng mới 100%
Công tắc hành trình, vỏ nhựa kỹ thuật và tiếp điểm kim loại, dùng để phát hiện vị trí giới hạn của sàn mẫu kính hiển vi điện tử quét (SEM), mã hàng TCN.S_308_0005

Công tắc hành trình, vỏ nhựa kỹ thuật và tiếp điểm kim loại, dùng để phát hiện vị trí giới hạn của sàn mẫu kính hiển vi điện tử quét (SEM), mã hàng TCN.S_308_0005

Mã MLC: TCN.S-308-0005

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

Công tắc hành trình cho kính hiển vi điện tử quét (SEM)Công tắc hành trình là linh kiện điều khiển và bảo vệ, có nhiệm vụ phát hiệ...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø55 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB55X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø55 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB55X3.2

Mã MLC: STUB55X3.2

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø25 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB25X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø25 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB25X3.2

Mã MLC: STUB25X3.2

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø30 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB30X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø30 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB30X3.2

Mã MLC: STUB30X3.2

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Giá tham khảo: Báo giá

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%
Mẫu chuẩn kiểm tra và hiệu chuẩn EDS, đế nhôm tiêu chuẩn Ø12,7 mm, dùng để kiểm tra hệ thống phân tích EDS trên kính hiển vi điện tử quét (SEM), vật liệu tham chiếu C/PTFE/Mn/Co/Al-Cu và lưới Ni 400/1000 mesh, thương hiệu EM-Tec

Mẫu chuẩn kiểm tra và hiệu chuẩn EDS, đế nhôm tiêu chuẩn Ø12,7 mm, dùng để kiểm tra hệ thống phân tích EDS trên kính hiển vi điện tử quét (SEM), vật liệu tham chiếu C/PTFE/Mn/Co/Al-Cu và lưới Ni 400/1000 mesh, thương hiệu EM-Tec

Mã MLC: EMT.36-000407-P

Giá tham khảo: Báo giá
Hãng, Thương hiệu: EM-Tec Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

EM-Tec EDX-Checker dành cho hệ thống EDX và máy dò BSE:Hiệu chuẩn nhanh chóng và dễ dàng & kiểm tra độ phân giải cho hệ thống...

Hàng mới 100%
Phụ kiện kính hiển vi điện tử SEM, TEM. Mẫu lưới đồng phthalocyanine đường kính 3.05mm, có các khoảng trống 1.0nm, dùng để kiểm tra kính hiển vi điện tử

Phụ kiện kính hiển vi điện tử SEM, TEM. Mẫu lưới đồng phthalocyanine đường kính 3.05mm, có các khoảng trống 1.0nm, dùng để kiểm tra kính hiển vi điện tử

Mã MLC: AGS136

Giá tham khảo: Báo giá
Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

Nhiều hình ảnh về vật liệu này xuất hiện trong các tài liệu về kính hiển vi điện tử truyền qua. Khoảng cách giữa các lớp cho phép...

Hàng mới 100%
Công tắc hành trình, vỏ nhựa kỹ thuật và tiếp điểm kim loại, dùng để phát hiện vị trí giới hạn của sàn mẫu kính hiển vi điện tử quét (SEM), mã hàng TCN.S_308_0005

Công tắc hành trình, vỏ nhựa kỹ thuật và tiếp điểm kim loại, dùng để phát hiện vị trí giới hạn của sàn mẫu kính hiển vi điện tử quét (SEM), mã hàng TCN.S_308_0005

Mã MLC: TCN.S-308-0005

Giá tham khảo: Báo giá
Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

Công tắc hành trình cho kính hiển vi điện tử quét (SEM)Công tắc hành trình là linh kiện điều khiển và bảo vệ, có nhiệm vụ phát hiệ...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø55 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB55X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø55 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB55X3.2

Mã MLC: STUB55X3.2

Giá tham khảo: Báo giá
Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø25 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB25X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø25 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB25X3.2

Mã MLC: STUB25X3.2

Giá tham khảo: Báo giá
Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%
Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø30 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB30X3.2

Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø30 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB30X3.2

Mã MLC: STUB30X3.2

Giá tham khảo: Báo giá
Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM)

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng t...

Hàng mới 100%